Neuer Test soll Pflanzenkrankheiten schneller erkennen

Jena. Forscher haben ein neues Verfahren vorgestellt, um bestimmte Pflanzenkrankheiten schneller nachweisen und damit Ernteausfällen vorbeugen zu können. Dabei geht es um Keime, die etwa den Eichentod, die Wurzelfäule bei Erdbeeren oder die Braunfäule an Kartoffeln verursachen, teilte das Jenaer Institut für Photonische Technologien mit. Bisherige Nachweise seien nur in speziellen Laboren möglich und teuer. Bei dem neuen Verfahren werden die Erreger mit einem Glas-Chip anhand ihrer DNA identifiziert. Dafür reichten Sporen oder Blattteile der Pflanzen.

In Zukunft wollen die Forscher einen Koffer mit diesem System entwickeln, der mit auf die Felder oder in die Baumschule genommen werden kann, um die Pflanzenkrankheiten am Ort nachzuweisen. Zudem soll die Methode auf weitere dieser Pflanzenkrankheiten ausgeweitet werden. Bisher lassen sich damit fünf unterschiedliche Arten nachweisen.